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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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Prisma E SEM扫描电子显微镜
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项
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SEM 带扫描电镜的高温疲劳试验机
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。
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新一代高精度低温铯离子源FIB系统
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牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature
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inLux™ SEM- 拉曼联用接口
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SEM QUANTAX EDS
、Micro-XRF 和 WDS 的无缝集成一款软件中,布鲁克的 ESPRIT 为任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了最全面的分析平台。
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zeroK NanoTech新一代高精度低温铯离子源FIB系统FIB-SEM
新一代高精度低温铯离子源FIB系统是基于激光冷却技术的产品,zeroKNanotech公司在2020年推出了FIB: ZERO系统,使用低温铯离子源(Cs+ LoTIS),并提供了离子源升级配件
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FIB-SEMzeroK NanoTechFIB:ZERO
新一代高精度低温铯离子源FIB系统是由zeroKNanotech公司于2020年推出的。它使用了曾获诺贝尔奖的激光冷却技术,并基于低温铯离子源(Cs+ LoTIS)开发了FIB:ZERO系统以及FIB
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Prisma E SEM-环境扫描钨灯丝电镜
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